振動試驗臺是根據(jù)載流導(dǎo)體在磁場中受力而發(fā)生運動的原理，采用的機械結(jié)構(gòu)和的工藝制作，主要特點為：磁路采用雙磁路強磁場結(jié)構(gòu)，動圈采用無骨架繞組，動圈支撐系統(tǒng)采用懸臂支架和空氣彈簧支撐，功放采用的開關(guān)放大電路，系統(tǒng)保護功能齊全，采用智能式控制，冷卻形式為強迫風(fēng)冷。振動試驗臺各項技術(shù)指標均符合GB/T13310-91《電動振動臺技術(shù)條件》和企標Q/320502SN001-2007《DV、DC系列電動振動試驗系統(tǒng)》的要求。
振動試驗臺技術(shù)參數(shù)：
1、頻率范圍：50HZ、1-600HZ、1-3000HZ、1-5000HZ
2、上下左右同一臺面臺體尺寸500×500×450:mm
上下左右前后同一個臺面臺體尺寸500×500×600:mm
3、振動波形：正弦波（半波/全波）
4、振動臺面尺寸500×500×10:mm
5、振幅范圍：0～4mm
6、大加速度：＜15g
7、承重量：75kg/60kg
8、時間設(shè)定范圍：1-65000S
9、運行次數(shù)：1-65000次任意設(shè)定
10、頻率可顯示到0.01Hz、精密度0.1Hz
11、電源電壓：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

振動試驗臺技術(shù)參數(shù)：1．大試驗負載(Kg)：602．設(shè)時范圍：0.01S-99.99H3．手動調(diào)頻范圍(Hz)：1~2004．工作臺面尺寸(mm)：550×550×465．自動掃頻范圍(Hz)：1~2006．工作臺體尺寸(mm)：550×550×3507．空載位移幅值(mm)：0~58．控制箱尺寸(mm)：450×330×7509．振動方向：垂直10．電源電壓(V/Hz)：220/50±2%11．振動波形：正弦波12．消耗功率(KVA)：1.713．測試模式：調(diào)頻/自動掃頻（線性振動）14．標準：GB/T2423.10

振動試驗臺的5大主要功能
1、振動試驗臺的定頻功能：我們可以在頻率范圍以內(nèi)任意設(shè)定單組試驗頻率;
2、設(shè)備的掃頻功能：能頻率范圍以內(nèi)任意設(shè)定上限頻率、下限頻率以及周期的時間,然后進行循環(huán)掃頻試驗;
3、振動試驗臺的倍頻功能：在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成倍的來進行循環(huán)試驗;
4、設(shè)備的對數(shù)功能：在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成對數(shù)的形式來進行循環(huán)試驗;
5、振動試驗臺的可程式功能：能在頻率范圍以內(nèi)將不同的固定頻率及時間分段編程試驗一共有15段。

振動試驗臺產(chǎn)品功能：  
1.調(diào)頻功能：在頻率范圍內(nèi)任意設(shè)定頻率。  
2.掃頻功能：（上限頻率/下限頻率/時間范圍）可任意設(shè)定。  
3.可程式功能：任意調(diào)整1~15段每段可任意設(shè)定（頻率/時間）可循環(huán)。  
4.對數(shù)功能：①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。  
5.倍頻功能：任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加，①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。  
6.顯示振幅加速度：如需看出振幅、加速度、大加速度、準確數(shù)值需另購測量儀（另購）。  
7.全功能電腦控制：485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦（另購）。  注：定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。
振動試驗臺使用方法
1、將機臺置于平整之地面，防振膠墊應(yīng)落實而不會出現(xiàn)前后、左右晃動，將機臺電源接牢。機器電機為兩 相電機，請與供電電源接牢；
2、打開機器電源開關(guān)，將試驗所需時間設(shè)定好：HMS依次為H小時、M分鐘、S秒；表盤上‘+、—’，依序 將數(shù)字1-9拔到所需檔；
3、調(diào)動高速旋扭相應(yīng)轉(zhuǎn)速在顯示表上顯示，目視機臺運行轉(zhuǎn)正常，將轉(zhuǎn)速調(diào)低，關(guān)掉電源；
4、將試件置于工作臺面，移動活動圍欄將試件固定于臺面位；
5、打開機臺電源，重啟機臺，調(diào)整相應(yīng)轉(zhuǎn)速，待試驗時間到達設(shè)定時間后，停機檢驗試件；
6、如需按ISTA-IA國際運輸標準做測試，則需用隨機附帶之標配塊置于試件（被測包裝件）下部，當機臺運行速度達到300rpm時，用手將標準塊從試件一側(cè)順利地推過試件底部；
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